raybet开户是用於(yu) 電工、電子及其他產(chan) 品、零部件、材料進行高溫或低溫試驗，檢測其產(chan) 品在高低溫環境下儲(chu) 存、運輸和使用時的適應性。其溫度應如何測試？以下是奧科為(wei) 您總結的溫度的試驗方法：
1、在試驗箱工作室內(nei) 定出上、中、下三個(ge) 水平測試麵，簡稱上、中、下層，上層與(yu) 工作室的頂麵的距離是工作室高度的1/10，中層通過工作室幾何中心，下層在底層樣架上方10mm處。
2、測試點位於(yu) 三個(ge) 測試麵上，中心測試點位於(yu) 工作室幾何中心，其餘(yu) 測試點到工作室壁的距離為(wei) 各自邊長1/10。但對你工作室容積不大於(yu) 1m3的試驗箱，該距離不小於(yu) 50mm。
3、測試點的數量與(yu) 工作室容積大小的關(guan) 係為(wei) ：a工作室容積不大於(yu) 2m³時，溫度測試點為(wei) 9個(ge) ，布放位置見（GBT-10592-6.3.1圖1)；b工作室容積大於(yu) 2m³時，溫度測試點為(wei) 15個(ge) ，布放位置見（GBT-10592-6.3.1圖2)；c當工作室容積大於(yu) 50m³時，溫濕度測試點的數量可以適當增加。
4、 .在試驗箱溫度可調範圍內(nei) ，選取高標稱溫度和低標稱溫度。
5、使試驗箱按先低溫後高溫的程序運行。在工作空間中心點的溫度達到測試溫度並穩定2h，在30min內(nei) 每1min測試所有測試點的溫度1次，共測30次。
