為(wei) 了評價(jia) 分析電子產(chan) 品可靠性而進行的試驗稱為(wei) 。試驗目的通常有如下幾方麵：
1. 在研製階段用以暴露試製產(chan) 品各方麵的缺陷，評價(jia) 產(chan) 品可靠性達到預定指標的情況；
2. 生產(chan) 階段為(wei) 監控生產(chan) 過程提供信息；
3. 對定型產(chan) 品進行可靠性鑒定或驗收；
4. 暴露和分析產(chan) 品在不同環境和應力條件下的失效規律及有關(guan) 的失效模式和失效機理；
5. 為(wei) 改進產(chan) 品可靠性，製定和改進可靠性試驗方案，為(wei) 用戶選用產(chan) 品提供依據。
對於(yu) 不同的產(chan) 品，為(wei) 了達到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗方法。
raybet竞技
：
技術：
：www.rtodocs.com
地址：杭州市西湖科技園振中路210號
