設備名稱：電磁吸合式振動試驗台
1、適用範圍：本標準規定用以測定電子組件（以下簡稱組件）於(yu) 運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
注：試驗方法Ⅰ適用於(yu) 測定對一般振動之耐久性，試驗方法Ⅱ適用於(yu) 測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前後共振點之偏距，試驗方法Ⅲ適用於(yu) 測定在共振點之耐久性。
2、裝置：振動裝置應能作表中所示各種試驗且符合下列條件。
（1）振動波形及失真率：施加於(yu) 供試品之振動波形為(wei) 正弦波，供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應為(wei) 25%以下。
（2）振動振幅：規定振動方向之振幅容許差，須為(wei) 規定值之±15%以內(nei) 。
（3）與(yu) 規定振動方向垂直之振動：於(yu) 供試品安裝位置，與(yu) 規定振動方向垂直之振動，不論任何方向，其振幅應為(wei) 規定方向之25%以下。
（4）振動頻率容許差：50Hz以下就為(wei) ±1Hz，超過50Hz時應為(wei) ±2%。
（5）掃描（1）方法：原則是為(wei) 對數掃描，但平均掃描亦可。
注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規定振動頻率範圍作1次往複之頻率變化。
3、準備
3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標準規定之方法，直接或使用夾具堅固地安裝於(yu) 振動台上。使用夾具時，須能施加振動於(yu) 組件標準規定之方向，且夾具應具足夠機械強度，安裝後亦不得鬆動或發生共振，組件標準應規定下列任一種安裝方法。
（1）固定組件本體(ti) （有導線之組件，亦同時固定導線）。
（2）僅(jin) 固定導線。
4、試驗
4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時，依組件標準之規定。
4．2 初期測定：依組件標準之規定施行，檢查外觀。
4．3 試驗方法：依下列各項施行。如裝置產(chan) 生磁導且供試品易受磁場影響時，於(yu) 組件中應規定其大允許值。
4．3．1 試驗方法種類：試驗方法分為(wei) Ⅰ（掃描耐久試驗）、Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）及Ⅲ（共振點耐久試驗）三種。
（1）試驗方法Ⅰ（掃描耐久試驗）：依組件標準之規定，照下表施行（參照圖）。
振動原則上依次施加於(yu) 供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同，合計6小時。
表
振動種類
試驗條件 種類A 種類B 種類C
振動頻率範圍 10～55Hz 100～500Hz 10～2000Hz
全振幅或加速度 1．5mm 1．5mm或98m/s2（10G）中較小者 1．5mm或196m/s2（20G）中較小者
掃描之比例 10-55-10Hz
約1分鍾 10-500-10Hz約15分鍾 10-2000-10Hz約20分鍾
掃描方法 對數掃描或平均掃描
試驗時間 6小時
（2）試驗方法Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）：本試驗是於(yu) 4．3．1（1）及4．3．1（3）試驗前後施行，以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時之振幅與(yu) 掃描耐久試驗相同。但如由於(yu) 減小振幅更能檢出振動特性。可減小振幅。
在掃描中檢出共振點時，減低規定之掃描程度，必要時可停止掃描。於(yu) 掃描耐入試驗前後檢出之共振頻率，均應予以記錄。
（3）試驗方法Ⅲ（共振點耐久試驗）：本試驗是就規定各振動方向之振動頻率，依組件標準之規定，於(yu) 組件標準規定
之振動頻率範圍內(nei) 作下列時間之試驗。
10分鍾 30分鍾 90分鍾 10小時 10周（cycle）
4．3．2 電負載：組件標準有規定時，於(yu) 4．3．1（1）、（2）、（3）試驗中，施加電負載。
4．3．3 後處理：原則上不作處後處理，但如有特別需要時，使組件標準之規定。
4．5 終測定：依組件標準之規定施行，且檢查外觀。
5、組件標準應規定事項
（1） 安裝（安裝用具及安裝方法）（參照3．1節）
（2） 前處理條件（有需要時）（參照4．1節）
（3） 初期測定項目（參照4．2節）
（4） 磁場影響（參照4．3節）
（5） 試驗方法種類及試驗條件（參照4．3．1（1）、（2）、（3））
（6） 電負載條件（參照4．3．2節）
（7） 振動試驗中之測定項目（有需要時）（參照4．3．3節）
（8） 後處理條件（有需要時局（參照4．4節）
（9） 終測定項目（參照4．5節）
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